Procesos estocásticos puntuales y fiabilidad de sistemas intermitentes

• Autores: Juan Diaz Godino
• Directores de la Tesis: Ramón Gutiérrez Jáimez (dir. tes.)
• Lectura: En la Universidad de Granada ( España ) en 1982
• Idioma: español
• Tribunal Calificador de la Tesis: Pablo Bobillo Guerrero (presid.) , Rafael Herrerías Pleguezuelo (secret.) , José Miguel Casas Sánchez (voc.) , Ramón Gutiérrez Jáimez (voc.) , Antonio Pascual Acosta (voc.)
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• Resumen

  • SE ESTUDIA EL EFECTO DE LA EXPOSICION INTERMITENTE AL RIESGO DE FALLO SOBRE LAS DISTRIBUCIONES DE VIDA ANALIZANDO LAS VARIABLES Y PROCESOS ESTOCASTICOS PUNTUALES QUE DEFINEN EL REGIMEN DE FUNCIONAMIENTO INTERMITENTE ASI COMO LAS RELACIONES ENTRE EL TIEMPO TOTAL HASTA EL FALLO Y EL TIEMPO BAJO RIESGO HASTA EL FALLO, SE ENCUENTRA UN PROCEDIMIENTO DE CALCULO DE LA DISTRIBUCION DEL TIEMPO BAJO RIESGO HASTA EL FALLO Y SE COMPARA LAS SOLUCIONES EXACTAS CON LOS MODELOS ASINTOTICO Y APROXIMADO. ANALIZA LAS DIFERENCIAS ENTRE EL MODELO DE INTERMITENCIA Y LOS MODELOS DE CHOQUE Y DESGASTE;

    EXTIENDE RESULTADOS SOBRE MOMENTOS DEL TIEMPO TOTAL HASTA EL FALLO Y DEMUESTRA QUE LAS CLASES DE DISTRIBUCIONES IFR DFR IFRA Y DFRA NO SE CONSERVAN EN EL MODELO DE INTERMITENCIA.