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Nonparametric Profile Monitoring by Mixed Effects Modeling. Comment.
Autores:
Hugh A. Chipman, R. Jock MacKay, Stefan H. Steiner
Localización:
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences
,
ISSN
0040-1706,
Vol. 52, Nº. 3, 2010
,
págs.
280-282
Idioma:
inglés
DOI
:
10.1198/tech.2010.09180
Texto completo no disponible
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