Los planes de muestreo convencionales que suelen utilizarse en los procesos de producci´on por lotes asumen que la proporci´on de unidades defectuosas, p, es constante. A menudo, sin embargo, es l´ogico suponer que p podr´ýa variar de un lote a otro, incluso cuando el proceso de fabricaci´on es estable. La utilizaci´on de informaci´on a priori relevante puede reducir significativamente el tama�no muestral necesario. Con el objetivo de decidir la aceptaci´on de un producto (o del proceso de fabricaci´on), este art´ýculo presenta un procedimiento general para determinar planes de muestreo ´optimos cuando la distribuci´on de la variable �tiempo hasta el fallo� es de localizaci´on-escala (y de log-localizaci´on y escala) y la muestra disponible est´a censurada por el n´umero de fallos. Se supone que previamente el productor y el consumidor han establecido de com´un acuerdo los niveles de calidad (aceptable y rechazable) y los riesgos promedios m´aximos que est´an dispuestos a aceptar. Adem´as, se asume que la distribuci´on a priori de p es beta generalizada. El procedimiento propuesto se ilustra, de forma comparativa, mediante varias tablas que presentan los correspondientes dise�nos ´optimos.
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