Bayesian Hierarchical Modeling for Integrating Low-Accuracy and High-Accuracy Experiments.

• Autores: Peter Z.G. Qian, C.F. Jeff Wu
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 50, Nº. 2, 2008, págs. 192-204
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/004017008000000082
• Texto completo no disponible (Saber más ...)