On the Reliability of the Self-Dual k-Out-of-n Systems.

• Autores: Francesc Carreras Escobar , Josep Freixas Bosch , María Albina Puente del Campo
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 50, Nº. 1, 2008, págs. 79-85
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/004017007000000137
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