Evaluating Experiments for Estimating the Bit Failure Cross-Section of Semiconductors Using a Colored Spectrum Neutrom Beam.

• Autores: Nicolas W. Hergartner, Sarah E. Michalak, Bruce E. Takala, Stephen A. Wender
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 50, Nº. 1, 2008, págs. 8-14
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/004017007000000461
• Texto completo no disponible (Saber más ...)