Resumen de Métodos de extracción de parámetros y modelado de las interconexiones y dispositivos integrados a partir de la descripción de las máscaras
EN ESTE TRABAJO SE DESARROLLAN NUEVAS TECNICAS PARA LA OBTENCION DE LOS PARAMETROS QUE CARACTERIZAN A LOS MODELOS DE LAS INTERCONEXIONES Y DISPOSITIVOS INTEGRADOS UTILIZADOS EN LA SIMULACION DEL COMPORTAMIENTO DEL DISEÑO A DIFERENTES NIVELES. SE HAN DESARROLLADO TECNICAS PARA EL CALCULO DE RESISTENCIAS INTEGRADAS Y TAMBIEN PARA EL CALCULO DEL COMPORTAMIENTO DINAMICO DE LAS INTERCONEXIONES QUE SE INTRODUCEN TANTO EN CUANTO SUPERAN A LAS UTILIZADAS HASTA EL MOMENTO EN VELOCIDAD DE CALCULO O NECESIDAD DE MEMORIA. ESTOS METODOS SE HAN INTEGRADO EN UNA HERRAMIENTA UNICA DE ANALISIS Y VERIFICACION DE MASCARAS CONTROLADA MEDIANTE UN LENGUAJE ESPECIAL.
