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Teoremas de muestreo asociados a problemas diferenciales y en diferencias

  • Autores: Miguel Angel Hernández Medina Árbol académico
  • Directores de la Tesis: Antonio García García (dir. tes.) Árbol académico
  • Lectura: En la Universidad Politécnica de Madrid ( España ) en 1998
  • Idioma: español
  • Tribunal Calificador de la Tesis: Carlos Vega Vicente (presid.) Árbol académico, Manuel Álvarez Fernández (secret.) Árbol académico, Francisco Marcellán Español (voc.) Árbol académico, Manuel Arrate Peña (voc.) Árbol académico, Jesús María Sanz Serna (voc.) Árbol académico
  • Texto completo no disponible (Saber más ...)
  • Resumen
    • En esta tesis se estudian teoremas de muestreo asociados a problemas diferenciales y en diferencias, Este estudio surge como una generalización del teorema clásico de Whittaker-Shannon-Kotel'nikov.

      El primer capítulo es introductorio y en él se estudian los espacios clásicos de Paley-Wiener a partir de la dualidad de Fourier. Se propone una demostración alternativa al clásico teorema de Paley-Wiener-Levinson sobre muestreo no uniforme.

      En el Capítulo 2 se tratan teoremas de muestreo asociados a problemas de Sturm-Liouville, tanto regulares, así como sus posibles generalizaciones.

      En el Capítulo 3 se estudian los sistemas diferenciales de Dirac unidimensionales.

      En el Capítulo 4 se estudian problemas finitos en diferencias de segundo orden. Este Estudio se realiza a partir de dos versiones discretas del Lema de Kramer.

      Finalmente, el Capítulo 5 está dedicado al estudio de la existencia de teoremas de muestreo asociados con problemas infinitos tipo Sturn-Liouville en diferencias de segundo orden.


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