Vulnerabilidad del diámetro de ciertas familias de grafos

• Autores: Ester Simó Mezquita
• Directores de la Tesis: José Luis Andrés Yebra (dir. tes.)
• Lectura: En la Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) ( España ) en 1995
• Idioma: español
• Tribunal Calificador de la Tesis: José Gómez Martí (presid.) , Marisa Zaragozá Monroig (secret.) , Raffaele Scapellatto (voc.) , John Bond (voc.) , Josep Maria Brunat i Blay (voc.)
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• Resumen

  • EN ESTE TRABAJO HEMOS REALIZADO UN ESTUDIO COMPLETO SOBRE LA VULNERABILIDAD DEL DIAMETRO DE DOS FAMILIAS DE GRAFOS:

    LOS GRAFOS IMPARES Y LOS N-CUBO PLEGADOS, EN EL CASO DE LOS GRAFOS IMPARES, HEMOS PROBADO QUE LA ELIMINACION DE CUALQUIER CONJUNTO DE VERTICES O RAMAS DE CARDINALIDAD K MENOR QUE EL GRADO INCREMENTA EL DIAMETRO DE LOS SUBGRAFOS RESULTANTES A LO SUMO EN DOS UNIDADES.

    ASIMISMO, HEMOS ESTUDIADO COMO VARIAN LOS PARAMETROS D'K Y D'K' CUANDO ELIMINAMOS K VERTICES O RAMAS DEL GRAFO.

    ANALOGAMENTE, PARA LOS GRAFOS CUBO PLEGADO HEMOS ESTUDIADO COMO VARIAN ESTOS PARAMETROS CUANDO ELIMINAMOS K VERTICES O RAMAS DEL GRAFO, PARA VALORES DE K INFERIORES AL GRADO DEL GRAFO. POR LOS RESULTADOS OBTENIDOS PODEMOS AFIRMAR QUE AMBAS FAMILIAS DE GRAFOS SON ADECUADAS PARA LA IMPLEMENTACION DE REDES DE INTERCONEXION TOLERANTES A FALLOS.

    OTRO ESTUDIO QUE HEMOS REALIZADO EN ESTA TESIS TRATA SOBRE EL DISEÑO DE REDES DENSAS FIABLES. Y HEMOS OBTENIDO CUATRO GRAFOS (A,D,D,1) QUE MEJORAN CINCO COTAS PRESENTADAS EN LA TABLA DE GRANDES GRAFOS (A,D,D,1).