InstitucionesÁrea de conocimientoPeriodo de publicación recogido
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K. Wang
Elizabeth B. Weller
Sharon X. Lee
Tsung-I Lin
Pal H. Wu
Hien Nguyen
Yohan Yee
Jason Lerch
A. Robertson
David Peel
Shu Kay Ng
Marina A. Sawdon
Thriyambakam Krishnan
S. K. Ng
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Hien Nguyen, Yohan Yee, Geoffrey J. McLachlan, Jason Lerch
Sort: Statistics and Operations Research Transactions, ISSN 1696-2281, Vol. 43, Nº. 2, 2019, págs. 237-258
A robust factor analysis model using the restricted skew-t distribution
Tsung-I Lin, Pal H. Wu, Geoffrey J. McLachlan, Sharon X. Lee
Test: An Official Journal of the Spanish Society of Statistics and Operations Research, ISSN-e 1863-8260, ISSN 1133-0686, Vol. 24, Nº. 3, 2015, págs. 510-531
Comments on: Augmenting the bootstrap to analyze high dimensional genomic data VII
Geoffrey J. McLachlan, K. Wang, S. K. Ng
Test: An Official Journal of the Spanish Society of Statistics and Operations Research, ISSN-e 1863-8260, ISSN 1133-0686, Vol. 17, Nº. 1, 2008, págs. 43-46
Quantifying the borderline candidate in standard setting
Geoffrey J. McLachlan, A. Robertson, Elizabeth B. Weller, Marina A. Sawdon
EDULEARN21 Proceedings: 13th International Conference on Education and New Learning Technologies (July 5th-6th, 2021, Online) / coord. por Luis Gómez Chova , A. López Martínez, I. Candel Torres, 2021, ISBN 978-84-09-31267-2, págs. 3198-3202
Statistical Analysis of Microarray Data
Geoffrey J. McLachlan
XXX Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa y de las IV Jornadas de Estadística Pública: actas, 2007, ISBN 978-84-690-7249-3
Geoffrey J. McLachlan, David Peel
New York [etc. : John Wiley & Sons, [2000. ISBN 0-471-00626-2
The EM algorithm and extensions
Geoffrey J. McLachlan, Thriyambakam Krishnan
New York [etc. : John Wiley & Sons, [1997. ISBN 0-471-12358-7
Discriminant analysis and statistical pattern recognition
Geoffrey J. McLachlan
New York [etc. : John Wiley & Sons, cop. 1992. ISBN 0-471-61531-5
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