InstitucionesÁrea de conocimientoPeriodo de publicación recogido
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Gregg Rothermel
Shin Hong
Shin Yoo
Moonzoo Kim
Taehoon Kwak
Zhihong Xu
Dongju Lee
Yiru Jeon
Seokhyeon Moon
Junki Baek
Bongseok Ko
Myra B. Cohen
Byeongcheol Lee
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MAESTRO: Automated test generation framework for high test coverage and reduced human effort in automotive industry
Yunho Kim, Dongju Lee, Junki Baek, Moonzoo Kim
Information and software technology, ISSN 0950-5849, Nº 123, 2020, págs. 1-17
MUSEUM: Debugging real-world multilingual programs using mutation analysis
Shin Hong, Taehoon Kwak, Byeongcheol Lee, Yiru Jeon, Bongseok Ko, Yunho Kim, Moonzoo Kim
Information and software technology, ISSN 0950-5849, Nº 82, 2017, págs. 80-95
Ask the Mutants: Mutating Faulty Programs for Fault Localization
Shin Yoo, Seokhyeon Moon, Yunho Kim, Moonzoo Kim
IEEE Seventh International Conference on Software Testing, Verification and Validation. 31 March�4 April 2014 Cleveland, Ohio, USA / coord. por Brian P. Robinson, Claes Wohlin, Laurie Williams, 2014, ISBN 9780769551852, págs. 153-162
Hybrid Directed Test Suite Augmentation: An Interleaving Framework
Yunho Kim, Gregg Rothermel, Zhihong Xu, Myra B. Cohen, Moonzoo Kim
IEEE Seventh International Conference on Software Testing, Verification and Validation. 31 March�4 April 2014 Cleveland, Ohio, USA / coord. por Brian P. Robinson, Claes Wohlin, Laurie Williams, 2014, ISBN 9780769551852, págs. 263-272
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