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Study of bistable defects created after high-temperature annealing in <f>34 MeV</f> proton irradiated Si diodes
Autores:
S. My, L. Fiore,
Piergiulio Tempesta
, D. Creanza, D. Giordano, V. Radicci, N. Manna, M. de Palma
Localización:
Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment,
ISSN
0168-9002, Vol. 530, Nº. 1, 2004,
págs.
128-133
Idioma:
inglés
DOI
:
10.1016/j.nima.2004.05.060
Texto completo no disponible
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