Estimadores de mínima phi-divergencia en modelos loglineales con modelos de muestreo complejo: aplicación para el modelo de Althman y Cohen

• Juana María Alonso Revenga ^[1] ; Nirian Martín Apaolaza ^[2]
  1. [1] Universidad Complutense de Madrid

     Universidad Complutense de Madrid

     Madrid, España

     
  2. [2] Universidad Carlos III de Madrid

     Universidad Carlos III de Madrid

     Madrid, España

     
• Localización: XXXIV Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa, VIII Jornadas de Estadística Pública: SEIO 2013. Universitat Jaume I, Castellón, septiembre 2013. Libro de actas / coord. por Jorge Mateu Mahiques , 2013, ISBN 978-84-8021-957-0, pág. 64
• Idioma: español
• Texto completo no disponible (Saber más ...)