El uso de algoritmos genéticos ligado a la maximización de la eficiencia técnica en el Análisis Envolvente de Datos

• Autores: José J. López Espín , Juan Aparicio Baeza , D. Giménez Espinosa, Jesús T. Pastor Ciurana
• Localización: XXXV Congreso Nacional SEIO: IX Jornadas de Estadística Pública : Universidad Pública de Navarra, Pamplona, del 26 al 29 de mayo de 2015 / María Dolores Ugarte Martínez (dir.) , Ana Fernández Militino (dir.) , Gilmar Santafe Patiño (dir.), 2015, ISBN 978-84-606-7906-6, págs. 103-104
• Idioma: español
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