Cristina Gómez Polo, María Dolores Ugarte Martínez
Este trabajo se incardina en una línea de colaboración docente e interdisciplinar entre el Departamento de Física y el Departamento de Estadística e Investigación Operativa de la Universidad Pública de Navarra. El objetivo es resolver problemas reales con herramientas de ambos campos de conocimiento. En esta ocasión pretendemos ilustrar un procedimiento de verificación de dispositivos de medida. Para proceder a dicha verificación es esencial la comparación, en las mismas condiciones, del dispositivo que se quiere verificar con otro dispositivo calibrado por un laboratorio acreditado y denominado patrón. Una vez tomadas una serie de medidas en determinadas condiciones con ambos dispositivos, se ha de calcular el error sistemático y la incertidumbre asociada a dicho error. En este trabajo mostramos la necesidad de considerar fuentes de variabilidad adicionales a las exclusivamente estadísticas.
© 2008-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados