Thermal behavior characterization for MOSFETs and BJTs in hazardous locations

• Dorindo Cardenas ^[1] ; Jaime Delgado ^[1]
  1. [1] Universidad Tecnológica de Panamá

     Universidad Tecnológica de Panamá

     Panamá

     
• Localización: Métodos numéricos para cálculo y diseño en ingeniería: Revista internacional, ISSN 0213-1315, Vol. 37, Nº 2, 2021, págs. 1-19
• Idioma: inglés
• DOI: 10.23967/j.rimni.2021.03.002
• Títulos paralelos:
  • Caracterización del comportamiento térmico para MOSFETs y BJTs en zonas clasificadas de riesgo
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