A lack-of-fit test for quantile regression models using logistic regression

• Mercedes Conde Amboage ^[1] ; Valentin Patilea ^[2] ; César Sánchez Sellero ^[1]
  1. [1] Universidade de Santiago de Compostela

     Universidade de Santiago de Compostela

     Santiago de Compostela, España

     
  2. [2] École Nationale de la Statistique et de l'Analyse de l'Information
• Localización: Livro de Atas III Encontro Luso-Galaico de Biometria DMat, Univ. Aveiro 28 - 30 junho 2018 / Magda Monteiro (aut.), Adelaide Freitas (aut.), Laetitia Teixeira (aut.), Marco Costa (aut.), 2018, ISBN 978-972-8890-42-1, págs. 160-163
• Idioma: inglés
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