A Hierarchical Model for Heterogenous Reliability Field Data

• Autores: Eric Mittman, Colin Lewis Beck, William Q. Meeker
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 61, Nº. 3, 2019, págs. 354-368
• Idioma: inglés
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