Material Degradation Modeling and Failure Prediction Using Microstructure Images

• Autores: Wujun Si, Qingyu Yang, Xin Wu
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 61, Nº. 2, 2019, págs. 246-258
• Idioma: inglés
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