Adjacency-Clustering and Its Application for Yield Prediction in Integrated Circuit Manufacturing

• Autores: Dorit S. Hochbaum, Sheng Liu
• Localización: Operations research, ISSN 0030-364X, Nº. 6, 2018, págs. 1571-1585
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1287/opre.2018.1741
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