PARAMETER IDENTIFICATION FOR SEMICONDUCTOR DIODES BY LBIC IMAGING

• Autores: Kazufumi Ito, David A. Redfern
• Localización: Siam journal on applied mathematics, ISSN 0036-1399, Vol. 62, Nº 6, 2002, págs. 2149-2174
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1137/s003613990139249x
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