Learning from a lot: Empirical Bayes for high‐dimensional model‐based prediction

• Autores: Mark A. van de Wiel, Dennis E. te Beest, Magnus M. Münch
• Localización: Scandinavian journal of statistics: Theory and applications, ISSN 0303-6898, Vol. 46, Nº. 1, 2019, págs. 2-25
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)