MATHEMATICAL MODELING OF ELECTROSTATIC MEMS WITH TAILORED DIELECTRIC PROPERTIES

• Localización: Siam journal on applied mathematics, ISSN 0036-1399, Vol. 62, Nº 3, 2002, págs. 888-908
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1137/s0036139900381079
• Texto completo no disponible (Saber más ...)