J. A. Sainz, Antonio Rubio
Este trabajo investiga la generación de vectores de test (TPG) para circuitos lógicos en los que los errores lógicos producidos se deben a interferencias de crosstalk. Se presenta un método algebraico y otro algorítmico para TPG en circuitos combinacionales. En una segunda parte se modelan los efectos de la impedancia común aplicados a puertas básicas.
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