Caracterización de biestables con el defecto de puerta flotante

• Autores: V. Champac, Joan Figueras Pamies , Antonio Rubio
• Localización: VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 287-292
• Idioma: español
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• Resumen

  • Se analiza el comportamiento de un biestable CMOS en presencia de un defecto de puerta flotante, con la finalidad de investigar la detectabilidad del defecto mediante el Test lógico.

    Se ha encontrado que un gran número de los defectos de puerta flotante (40%) no son detectables por Test lógico y del 60% restante algunos tampoco son detectables para cierta topologías del defecto. Se plantea la necesidad de utilizar otras estrategias de test como Iddq o Test por Retardo para detectar el defecto de puerta flotante.