BITPG: procedimientos de generación de vectores de test para fallos cortocircuito en circuitos CMOS

• Autores: Miquel Roca Adrover , Antonio Rubio
• Localización: Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 389-392
• Idioma: español
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• Resumen

  • La relevante importancia de los fallos tipo cortocircuito en los circuitos CMOS actuales hace que el desarrollo de procedimientos de test para dicho fallo sea cada día más necesario. Una de las técnicas de test que se muestra más eficiente para dicho fallo es la que se basa en la observación de la corriente de consumo estable. En este trabajo se presenta un procedimiento de generación d vectores de test para dicho fallo mediante técnica de observación de corriente. El procedimiento que se introduce se basa en conceptos deterministas y diferencia entre fallos que pueden provocar fenómenos oscilantes en el comportamiento del circuito, y aquellos que no pueden provocar dicho comportamiento.