Multiple Testing in Regression Models With Applications to Fault Diagnosis in the Big Data Era.

• Autores: Ching-Kang Ing, Tze Leung Lai, Milan Shen, KaWai Tsang, Shu-Hui Yu
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 59, Nº. 3, 2017, págs. 351-360
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1080/00401706.2016.1236755
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