A Statistical Framework for Improved Automatic Flaw Detection in Nondestructive Evaluation Images.

• Autores: Ye Tian, Ranjan Maitra, William Q. Meeker, Stephen D. Holland
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 59, Nº. 2, 2017, págs. 247-261
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1080/00401706.2016.1153000
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