Estimating a Parametric Component Lifetime Distribution from a Collection of Superimposed Renewal Processes.

• Autores: Wei Zhang, Ye Tian, Luis A. Escobar, William Q. Meeker
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 59, Nº. 2, 2017, págs. 202-214
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1080/00401706.2016.1172028
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