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Estimating a Parametric Component Lifetime Distribution from a Collection of Superimposed Renewal Processes.
Autores:
Wei Zhang, Ye Tian, Luis A. Escobar, William Q. Meeker
Localización:
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences
,
ISSN
0040-1706,
Vol. 59, Nº. 2, 2017
,
págs.
202-214
Idioma:
inglés
DOI
:
10.1080/00401706.2016.1172028
Texto completo no disponible
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