Resumen de Estudio del comportamiento de un amplificador operacional en presencia de fallos físicos

Miquel Roca Adrover , Antonio Rubio

• En este trabajo se realiza un análisis del efecto de fallos físicos en circuitos CMOS analógicos. Los circuitos considerados son amplificadores operacionales y los defectos considerados cortocircuitos (bridge faults) y transistores en estado de no conducción permanente (stuck-open). La caracterización de la corriente de consumo del circuito con fallos mostrará la posibilidad de test Idd (observación de la corriente) para circuitos analógicos y su efectividad.