Two-Level Designs to Estimate All Main Effects and Two-Factor Interactions.

• Autores: Pieter T. Eendebak, Eric D. Schoen
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 59, Nº. 1, 2017, págs. 69-79
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1080/00401706.2016.1142903
• Texto completo no disponible (Saber más ...)