Comment: Expected Improvement for Efficient Blackbox Constrained Optimizatio.

• Autores: Hao Chen, William J. Welch
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 58, Nº. 1, 2016, págs. 12-15
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1080/00401706.2015.1044119
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