A Semiparametric Software Reliability Model for Analysis of a Bug-Database With Multiple Defect Types.

• Autores: Vignesh T. Subrahmaniam, Anup Dewanji, Bimal K. Roy
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 57, Nº. 4, 2015, págs. 576-585
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1080/00401706.2014.947004
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