Importance Sampling for Reliability Evaluation With Stochastic Simulation Models.

• Autores: Youngjun Choe, Eunshin Byon, Nan Chen
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 57, Nº. 3, 2015, págs. 351-361
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1080/00401706.2014.1001523
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