Automatic Early Defects Detection in Use Case Documents

• Autores: Shuang Liu, Jun Sun, Yang Liu, Yue Zhang, Bimlesh Wadhwa, Jin Song Dong, Xinyu Wang
• Localización: ASE´14. Proceedings of the 29th ACM/IEEE international conference on Automated software engineering / coord. por Ivica Crnkovic, 2014, ISBN 978-1-4503-3013-, págs. 785-790
• Idioma: inglés
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