Automated Test Generation from Vulnerability Signatures

• Autores: Abdulbaki Aydin, Muath Alkhalaf, Tevfik Bultan
• Localización: IEEE Seventh International Conference on Software Testing, Verification and Validation. 31 March�4 April 2014 Cleveland, Ohio, USA / coord. por Brian P. Robinson, Claes Wohlin, Laurie Williams, 2014, ISBN 9780769551852, págs. 193-202
• Idioma: inglés
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