Semi-automatic Incompatibility Localization for Re-engineered Industrial Software

• Autores: Hironori Washizaki, Susumu Tokumoto, Kazunori Sakamoto, Kiyofumi Shimojo, Tadahiro Uehara
• Localización: IEEE Seventh International Conference on Software Testing, Verification and Validation. 31 March�4 April 2014 Cleveland, Ohio, USA / coord. por Brian P. Robinson, Claes Wohlin, Laurie Williams, 2014, ISBN 9780769551852, págs. 91-94
• Idioma: inglés
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