Computing Critical Values of Exact Tests by Incorporating Monte Carlo Simulations Combined with Statistical Tables.

• Autores: Albert Vexler, Young Min Kim, Jihnhee Yu, Nicole A. Lazar, Alan D. Hutson
• Localización: Scandinavian journal of statistics: Theory and applications, ISSN 0303-6898, Vol. 41, Nº. 4, 2014, págs. 1013-1030
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1111/sjos.12079
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