Automated and Scalable T-wise Test Case Generation Strategies for Software Product Lines

• Autores: Gilles Perrouin, Benoit Baudry , Pierre Yves Le Traon
• Localización: Third International Conference on Software Testing, Verification, and Validation. ICST 2010. 7-9 April 2010 Paris, France / coord. por Marie-Claude Gaudel, 2010, ISBN 9780769539904, págs. 459-468
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)