Repairing GUI Test Suites Using a Genetic Algorithm

• Autores: S. Huang, Atif M. Memon, Si Huang
• Localización: Third International Conference on Software Testing, Verification, and Validation. ICST 2010. 7-9 April 2010 Paris, France / coord. por Marie-Claude Gaudel, 2010, ISBN 9780769539904, págs. 245-254
• Idioma: inglés
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