Posterior Distribution Charts: A Bayesian Approach for Graphically Exploring a Process Mean.

• Autores: Daniel W. Apley
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 54, Nº. 3, 2012, págs. 279-293
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1080/00401706.2012.694722
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