Analysis of a Compressed Thin Film Bonded to a Compliant Substrate: The Energy Scaling Law

• Autores: Robert V. Kohn, Hoai-Minh Nguyen
• Localización: Journal of nonlinear science, ISSN 0938-8974, Vol. 23, Nº 3, 2013, págs. 343-362
• Idioma: inglés
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