Se han estudiado los errores que presenta un muestreador de orden cero en función de las características de la señal de muestreo y las limitaciones, tanto de órden estático como de orden dinámico, de los componentes del muestreador.
se han tenido asimismo en cuenta los errores asignados por el posible asincronismo de los tiempos de disparo en las "gates" de que consta aquél.
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