CHARACTERIZATION AND DUALITY OF PROJECTIVE AND DIRECT LIMITS OF MEASURES AND APPLICATIONS

• Autores: M. M. Rao
• Localización: International Journal of Mathematics, ISSN-e 0129-167X, Vol. 22, Nº. 8, 2011, págs. 1089-1119
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1142/s0129167x11007148
• Texto completo no disponible (Saber más ...)