Bayesian Local Contamination Models for Multivariate Outliers.

• Autores: Garritt L. Page, David B. Dunson
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 53, Nº. 2, 2011, págs. 152-162
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/tech.2011.10041
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