Magnetic Resonance Electrical Impedance Tomography (MREIT)

• Autores: Jin Keun Seo, Eung Je Woo
• Localización: SIAM Review, ISSN 0036-1445, Vol. 53, Nº. 1, 2011, págs. 40-68
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1137/080742932
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