Reliability Growth Management Metrics and Statistical Methods for Discrete-Use Systems.

• Autores: J. Brian Hall, Paul M. Ellner, Ali Mosleh
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 52, Nº. 4, 2010, págs. 379-388
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/tech.2010.08068
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