A Confidence Interval Procedure for Expected Shortfall Risk Measurement via Two-Level simulation.

• Autores: Hai Lan, Barry L. Nelson, Jeremy Staum
• Localización: Operations research, ISSN 0030-364X, Nº. 5, 2010, págs. 1481-1490
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1287/opre.1090.0792
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