Field-Failure and Warranty Prediction Based on Auxiliary Use-Rate Information.

• Autores: Yili Hong, William Q. Meeker
• Localización: Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Vol. 52, Nº. 2, 2010, págs. 148-159
• Idioma: inglés
• DOI: 10.1198/tech.2010.09097
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