Estimación y comparación de las razones de verosimilitud de dos tests diagnósticos binarios en diseños apareados

• Autores: Juan de Dios Luna del Castillo , José A. Roldán Nofuentes
• Localización: XXX Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa y de las IV Jornadas de Estadística Pública: actas, 2007, ISBN 978-84-690-7249-3
• Idioma: español
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• Resumen

  • El rendimiento de un test diagn´ostico binario se puede medir mediante las razones de verosimilitud (LRs). Cuando el resultado del test diagn´ostico es positivo, la LR del test diagn´ostico se define como el ratio entre la probabilidad de clasificar correctamente a un paciente enfermo y la probabilidad de clasificar incorrectamente a un paciente no enfermo; y cuando el resultado del test es negativo, la LR es el ratio entre la probabilidad de clasificar incorrectamente a un paciente enfermo y la probabilidad de clasificar correctamente a un paciente no enfermo. En este trabajo nosotros proponemos un m´etodo para estimar y comparar las razones de verosimilitud de dos tests diagn´osticos binarios cuando ambos tests se aplican a una misma muestra de pacientes. Hemos realizado unos experimentos de simulaci´on para estudiar la potencia y el error tipo I de los tests de hip´otesis deducidos. Tambi´en hemos analizado el problema del c´alculo del tama�no muestral para comparar las razones de verosimilitud.